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液晶元件的光学参数量测方法及光学参数量测装置

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摘要

一种液晶元件的光学参数量测方法，包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射液晶元件局部面积的偏振光束；(B)使该光束依序通过一相位延迟片与待测的液晶元件，并将穿透液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；(C)连续地以一预定角度旋转该相位延迟片，并每旋转一次就撷取该平行偏振光束所产生的第一图像画面，以及该垂直偏振光束所产生的第二图像画面；(D)分析所述第一图像画面与所述第二图像画面，以获得该平行偏振光束与该垂直偏振光束两者的光强度比值；(E)依据所述光强度比值，求得液晶元件局部面积的光学参数二维空间分布。

著录项

  • 公开/公告号CN102213847A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 周晟;

    申请/专利号CN201010141668.X

  • 发明设计人 周晟;

    申请日2010-04-08

  • 分类号G02F1/13(20060101);G01J1/10(20060101);

  • 代理机构11355 北京泰吉知识产权代理有限公司;

  • 代理人张雅军

  • 地址 中国台湾台北市

  • 入库时间 2023-12-18 03:21:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-04

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02F1/13 申请公布日:20111012 申请日:20100408

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-10-12

    公开

    公开

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