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一种综合目测、ICC标准和自定义标准的数码打样质量评估方法

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摘要

本发明涉及一种数码打样质量评估方法，尤其是涉及一种综合目测、ICC标准和自定义标准的数码打样质量评估方法。本发明采用所有色块平均色差、所有色块最大色差、青色实地色差、品红实地色差、黄色实地色差、黑色实地色差、纸张白色色差、灰度平均色差、灰度最大色差、95%色块色差峰值这些参数作为色差评价标准；因此，本发明具有如下优点：综合主观评价法和客观评价法，并提供选择ICC标准和自定义标准以及向标准测控条中添加自定义色块，能够更加快速、精确、全面的评估数码打样质量。

著录项

  • 公开/公告号CN102307273A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201110143266.8

  • 发明设计人 易尧华;

    申请日2011-05-31

  • 分类号

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张火春

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2023-12-18 04:04:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H04N1/54 申请公布日:20120104 申请日:20110531

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-02-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N1/54 申请日:20110531

    实质审查的生效

  • 2012-01-04

    公开

    公开

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