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用于高分辨率焦平面兆兆赫兹成像阵列的微型相校正天线

摘要

一种反向二极管阵列,反向二极管的阴极层与非均匀掺杂剖面的第一侧相邻,并且其锑化物基隧道势垒层与间隔层的第二侧相邻,使单片集成的天线结合到每个反向二极管。锑化物基隧道势垒可以利用例如非均匀的δ掺杂剖面来掺杂。成像/检测装置包括反向二极管阵列的2D焦平面阵列,其中每个反向二极管单片地结合到天线,阵列位于延伸的半球形透镜的背面,并且其中倾斜某些阵列用于校正光学像差。天线可以是蝶形天线、平面对数周期天线、具有微带馈入的双隙缝天线、螺形天线、螺旋状天线、环形天线、电介质棒天线、或者具有共面波导馈入天线的双隙缝天线。

著录项

  • 公开/公告号CN102460707A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 俄亥俄州立大学;

    申请/专利号CN201080033321.1

  • 申请日2010-05-28

  • 分类号H01L29/51;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人周少杰

  • 地址 美国俄亥俄州

  • 入库时间 2023-12-18 05:21:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-31

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L29/51 申请公布日:20120516 申请日:20100528

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/51 申请日:20100528

    实质审查的生效

  • 2012-05-16

    公开

    公开

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