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无需深度扫描的时域光学相干层析成像方法与系统

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摘要

一种无需深度扫描的时域光学相干层析成像方法与系统，该方法是在时域光学相干层析成像方法的基础上，用柱面凸镜代替干涉参考臂的聚焦透镜形成线状参考光，并通过倾斜参考臂的参考平面反射镜在参考光线状长度方向上引入连续的光程差，用一维光电探测器阵列代替点光电探测器，获得待测样品同一个探测点连续不同深度处的干涉信号，通过去直流背景之后，对该干涉信号沿参考光线状长度方向作希尔伯特变换分析，最后得到待测样品的层析图。本发明只需一次曝光即可实现一维光学相干层析成像，具有结构简单、成像速度快、无寄生像、对运动模糊不敏感的特点。在不牺牲系统信噪比的情况下，实现无需深度扫描的时域光学相干层析成像。

著录项

  • 公开/公告号CN102628799A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;

    申请/专利号CN201210124388.7

  • 发明设计人 黄炳杰;王向朝;步鹏;南楠;郭昕;

    申请日2012-04-25

  • 分类号G01N21/45(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱

  • 入库时间 2023-12-18 06:20:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/45 申请公布日:20120808 申请日:20120425

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-10-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/45 申请日:20120425

    实质审查的生效

  • 2012-08-08

    公开

    公开

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