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对数似然比和针对数据存储系统的集中的对数似然比生成

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摘要

一种用于数据存储设备的错误管理系统可以生成针对MLC固态介质中的存储器单元较高页和较低页的软决策对数似然比(LLR)。公开了用于生成针对较高页的集中的LLR的系统和方法，其中将至少一些电压阈值读取链接在一起以便减少读取的数量。从而提高了效率和可靠性。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-04-30

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11C16/34 申请公布日:20150923 申请日:20130924

发明专利申请公布后的视为撤回
2015-12-23

实质审查的生效 IPC(主分类):G11C16/34 申请日:20130924

实质审查的生效
2015-09-23

公开

公开

1. 对数似然比和针对数据存储系统的集中的对数似然比生成 [P] . 中国专利： CN104937667A . 2015-09-23
2. 对数似然比运算电路、发送装置和对数似然比运算方法 [P] . 中国专利： CN101356790B . 2013.08.14
3. Log-likelihood ratio for the data storage system and batch log likelihood ratio generation [P] . 日本专利： JP2016506590A . 2016-03-03

机译：数据存储系统的对数似然比和批处理对数似然比的生成
4. LOG-LIKELIHOOD RATIO AND LUMPED LOG-LIKELIHOOD RATIO GENERATION FOR DATA STORAGE SYSTEMS [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2936495A4 . 2016-07-13

机译：数据存储系统的对数似然比和集总对数似然比
5. LOG-LIKELIHOOD RATIO AND LUMPED LOG-LIKELIHOOD RATIO GENERATION FOR DATA STORAGE SYSTEMS [P] . 韩国专利： KR20150099795A . 2015-09-01

机译：数据存储系统的对数似然比和集总对数似然比