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恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪

摘要

本发明公开了一种恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪,用于原子荧光测量并有效校正原子化过程中的光散射和仪器光学系统中杂散光。该原子荧光光谱仪包括:基于海尔巴赫结构的环形磁钢、装在环形磁钢中心的锐线光源、旋转偏振棱镜、分别置于旋转棱镜前后的第一会聚透镜和第二会聚透镜、原子荧光原子化器、置于原子化器和检测器之间的第三会聚透镜、光电检测器、前置放大器、A/D变换器和控制旋转棱镜与前置放大器之间同步并进行数据处理的微处理器。本发明能够有效校正原子化过程中的光散射和仪器光学系统中杂散光。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-26

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J3/28 申请公布日:20151104 申请日:20150702

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20150702

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    公开

    公开

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