首页> 中国专利> XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法

XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法

摘要

本发明公开了一种XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法,其中工作曲线的制作方法包括如下步骤:制备标准样品的分析样片;采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度;其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分;分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距:通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析,从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。本发明提高了XRF分析的准确性和操作方便性。

著录项

  • 公开/公告号CN105486708A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510867519.4

  • 申请日2015-12-01

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王伟锋;刘铁生

  • 地址 100024 北京市朝阳区管庄东里1号

  • 入库时间 2023-12-18 15:24:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20160413 申请日:20151201

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20151201

    实质审查的生效

  • 2016-04-13

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号