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镜面洁净度分析仪及镜面洁净度分析方法

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摘要

本发明提供一种镜面洁净度分析仪及镜面洁净度分析方法，镜面洁净度分析仪包括镜面洁净度终端设备和洁净度分析平台；其中，所述镜面洁净度终端设备包括洁净度试验子系统、洁净度对照子系统、跟踪驱动装置和控制采集器；本发明可精确计算出场址镜面浮尘引起的反光率衰减情况，并且，该镜面浮尘衰减情况与真实反射镜安装于该场址时的镜面浮尘衰减情况一致，能够根据所计算到的场址镜面浮尘衰减情况，准确判断出该场址是否适合作为布置镜场的场址，为用于镜场布置的场址选择提供有效的参考信息；另外，还具有耐候性高、结构简单、成本低的优点，可与项目前期气象站联合使用，进行大范围推广应用。

著录项

  • 公开/公告号CN105548213A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中广核太阳能开发有限公司;中国广核集团有限公司;

    申请/专利号CN201410601955.2

  • 发明设计人 张继;符佳;王锐;

    申请日2014-10-31

  • 分类号G01N21/95;G06T7/00;

  • 代理机构北京市盛峰律师事务所;

  • 代理人席小东

  • 地址 100048 北京市海淀区西三环北路100号光耀东方大厦21层

  • 入库时间 2023-12-18 15:50:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-27

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01N21/95 放弃生效日:20180727 申请日:20141031

    专利权的视为放弃

  • 2016-06-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/95 申请日:20141031

    实质审查的生效

  • 2016-05-04

    公开

    公开

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