首页> 中国专利> 基于多因素复杂控制问题的特征值非精确优化方法

基于多因素复杂控制问题的特征值非精确优化方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

本发明涉及一种基于多因素复杂控制问题的特征值非精确优化方法，所述方法用优化方法解决控制领域问题，定义函数f和c的近似割平面模型，在引入第l个改进函数的割平面模型后，进行特征值非精确优化方法设计和计算。本发明在建立数学模型和数值准确性之间寻找平衡，广泛的应用于机器人设计、反Chebyshev逼近、最优时间控制、中心设计、滤波器设计中的信号处理、竞争决策中。

著录项

公开/公告号CN105701332A

专利类型发明专利
公开/公告日2016-06-22

原文格式PDF
申请/专利权人庞丽萍;
展开▼

申请/专利号CN201510943476.3
发明设计人庞丽萍;吕剑;王金鹤;
展开▼

申请日2015-12-17
分类号G06F19/00;
代理机构
代理人
地址 116024 辽宁省大连市大连理工大学数学科学院创新大厦A1016
入库时间 2023-12-18 15:45:39

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-08-06

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F19/00 申请公布日:20160622 申请日:20151217

发明专利申请公布后的驳回
2016-07-20

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20151217

实质审查的生效
2016-06-22

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 基于多因素复杂控制问题的特征值非精确优化方法 [P] . 中国专利： CN105701332A . 2016-06-22
2. 一种基于非严格重复问题的复杂非线性系统学习控制方法 [P] . 中国专利： CN109946964A . 2019-06-28
3. METHOD AND APPARATUS FOR RETRIEVAL OF DEFECTIVE CLUSTERING, RECORDING MEDIUM WITH STORED DEFECTIVE- CLUSTERING-RETRIEVAL PROGRAM, OPTIMIZATION METHOD FOR RELIEF CIRCUIT, PROCESS CONTROL METHOD, CLEAN-ROOM CONTROL METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD AND APPARATUS FOR EXTRACTION OF PROBLEMATIC PROCESS AND PROBLEMATIC APPARATUS, RECORDING MEDIUM WITH STORED EXTRACTION PROGRAM FOR THE PROBLEMATIC PROCESS AND THE PROBLEMATIC APPARATUS AND SCRAP DETERMINING METHOD FOR RETRIEVAL PARENT BODY [P] . 日本专利： JP2002141256A . 2002-05-17

机译：缺陷簇的恢复方法和装置，存储有缺陷的簇簇-恢复程序的记录介质，缓解电路的优化方法，过程控制方法，清洁室控制方法，半导体制造方法，过程和问题仪器，用存储提取程序记录介质的问题过程，以及检索母体的问题仪器和刮擦确定方法
4. METHODS AND SYSTEMS FOR ANALYTICAL-BASED MULTIFACTOR MULTIOBJECTIVE PORTFOLIO RISK OPTIMIZATION [P] . 世界知识产权组织专利： WO2004086183A3 . 2005-06-09

机译：基于分析的多因素多目标组合风险优化方法和系统
5. METHODS AND SYSTEMS FOR ANALYTICAL-BASED MULTIFACTOR MULTIOBJECTIVE PORTFOLIO RISK OPTIMIZATION [P] . 世界知识产权组织专利： WO2004086183A2 . 2004-10-07

机译：基于分析的多因素多目标组合风险优化方法和系统