公开/公告号CN106021410A
专利类型发明专利
公开/公告日2016-10-12
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院软件研究所;
申请/专利号CN201610317968.6
申请日2016-05-12
分类号G06F17/30(20060101);G06K9/62(20060101);
代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人邱晓锋
地址 100190 北京市海淀区中关村南四街4号
入库时间 2023-06-19 00:39:52
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-11-09
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/30 申请日:20160512
实质审查的生效
2016-10-12
公开
公开
机译: 一种用于制造芯片部件外部电极的金属粉末的质量评估方法,一种通过质量评估方法制备的用于芯片部件外部电极的金属粉末质量评估,一种使用金属粉末的金属浆料质量评估方法
机译: 基于机器学习工具的音视频流分析的客户服务质量评估方法和系统
机译: 一种使用氧化物半导体薄膜的质量评估方法,所述氧化物半导体薄膜的质量控制方法和所述质量评估方法的半导体制造设备。