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X射线成像装置、X射线成像方法和X射线成像装置的控制方法

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一种简化的X射线成像装置即使对于轻元素也能够以小的误差因数计算确定有效原子序数。X射线成像装置具有用于产生X射线的X射线产生单元101(400)和用于检测透过被检体104(403)的X射线的检测器105(405)。计算单元106(406)从由检测器检测的数据计算确定可归因于被检体的X射线相位的量和被检体的X射线透射率。计算单元还从由X射线相位的量确定的ρet和由X射线透射率确定的μt计算确定被检体的有效原子序数。

著录项

公开/公告号CN101960298B

专利类型发明专利
公开/公告日2013-01-16

原文格式PDF
申请/专利权人佳能株式会社;
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申请/专利号CN200980108149.9
发明设计人向出大平;高田一广;渡边壮俊;
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申请日2009-03-11
分类号
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人康建忠
地址日本东京
入库时间 2022-08-23 09:12:25

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-03-30

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/04 授权公告日:20130116 终止日期:20170311 申请日:20090311

专利权的终止
2013-01-16

授权

授权
2013-01-16

授权

授权
2011-03-23

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20090311

实质审查的生效
2011-03-23

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20090311

实质审查的生效
2011-01-26

公开

公开
2011-01-26

公开

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