首页> 中国专利> 一种X射线荧光光谱法测定钛精矿样品的处理方法

一种X射线荧光光谱法测定钛精矿样品的处理方法

摘要

本发明公开一种X射线荧光光谱法测定钛精矿样品的处理方法,包括随机取样,采用四分法得到钛精矿样品;研磨钛精矿样品至100目全通过;烘干,然后冷却干燥至室温;按质量份数称量钛精矿样品20~100份并氧化处理;按质量份数称量钛精矿样品1~10份,并干燥冷却至室温;将钛精矿样品与助熔剂混合均匀置于铂金皿中;向铂金皿中加入氧化剂与脱模剂分散均匀;将铂金皿置于熔样机,以650℃预氧化烘烤6~8min;升高熔样温度至1050~1150℃,保持10~20min,得到符合X射线荧光光谱法测定要求的待测钛精矿样品融片;对一定目数的钛精矿采取中低温煅烧的氧化处理方法,以使钛精矿中的Fe

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N1/28 申请公布日:20170222 申请日:20161221

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2018-02-27

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N1/28 变更前: 变更后: 申请日:20161221

    著录事项变更

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20161221

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

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