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通过分析多个物理不可克隆功能电路编码的可靠性降级的早期检测

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摘要

本发明描述了通过分析多个物理不可克隆功能电路编码的可靠性降级的早期检测。描述了一种装置，其包括多个电路，每个电路被设计为展示唯一签名编码，所述唯一签名编码根据与用于制造所述电路的制造工艺相关联的制造容差来确定。所述装置还包括错误电路，其用于基于来自所述多个电路的签名编码的改变来确定错误已经出现。

著录项

  • 公开/公告号CN106908710A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201611271070.6

  • 发明设计人 S·辛迪阿;R·F·克瓦斯尼克;D·辛格;

    申请日2016-11-22

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人林金朝;王英

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-06-19 02:44:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20161122

    实质审查的生效

  • 2017-06-30

    公开

    公开

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