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陀螺仪自校准和陀螺仪质量块摆幅测量装置、方法

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摘要

一种陀螺仪自校准和陀螺仪质量块摆幅测量装置、方法，其中陀螺仪自校准装置包括：信号发生器，用于产生调制信号，该调制信号包括：驱动陀螺仪谐振运动的驱动信号和激励陀螺仪中的质量块产生摆幅的电激励信号；检测及分析电路，用于检测摆幅得到摆幅信号，将摆幅信号转换为电压信号，并分析得到电压信号中的边频带比值；其中，电激励信号的角速度与电压信号中的边频带比值存在非线性关系。本发明采用电激励信号进行校准，无需使用高精度物理转台，简化了陀螺仪在出厂时标定的过程，降低了校准成本；在使用过程中，用户可实时进行陀螺仪的自校准，因此避免了由于器件老化、环境温度变化、系统噪声等产生的器件参数变化，陀螺仪精度的下降。

著录项

  • 公开/公告号CN107084745A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201710269924.5

  • 发明设计人 许建军;王玮冰;李佳;

    申请日2017-04-21

  • 分类号G01C25/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2023-06-19 03:05:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C25/00 申请日:20170421

    实质审查的生效

  • 2017-08-22

    公开

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