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一种基于多波长相位调制的光学合成孔径成像望远镜阵列共相误差探测方法

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本发明公开了一种基于多波长相位调制的光学合成孔径成像望远镜阵列共相误差探测方法，通过给合成孔径成像望远镜阵列的一个子望远镜添加特定的相位调制，用相机测得系统的一组点扩散函数PSF值，对这组PSF值进行处理得到望远镜阵列在特定波长下的部分相位差，再在不同波长情况下重复上述过程得到多个部分相位差，通过对多个波长情况下的各个部分相位差进行处理得到成像系统的共相误差。本方法使用空间相位调制器件对合成孔径成像望远镜阵列的一个子望远镜进行相位调制，算法恢复共相误差不需要迭代计算，能快速精准的探测系统的共相误差，同时由于本方法利用了多波长信息，克服了2π模糊的影响，从而极大的提高了共相误差的探测范围和精度。

著录项

公开/公告号CN107656363A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-02-02

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院光电技术研究所;
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申请/专利号CN201711041721.7
发明设计人董理;马浩统;彭起;任戈;亓波;谢宗良;陈丰;谭玉凤;
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申请日2017-10-31
分类号G02B21/00(20060101);G02B27/00(20060101);
代理机构
代理人
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
入库时间 2023-06-19 04:26:08

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-03-02

实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/00 申请日:20171031

实质审查的生效
2018-02-02

公开

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