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集成电路测试环境中探针卡组件的改进的电源瞬变性能（电源完整性）

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摘要

本发明基本描述了用于实现对裸片的低阻抗(超频)功率输送的三个不同的实施例。这种高频低阻抗使裸片能够以封装级速度工作，从而降低封装级的成品率损失。每个实施例解决了整个晶圆探针应用的稍微不同的方面。然而，在每个实施例中，本公开的关键改进是相对于现有技术用于供电过滤/去耦的无源元件的位置。所有的三个实施例都需要一种方法将无源元件嵌入到间距转换基板的附近或物理地在间距转换基板内。

著录项

公开/公告号CN107710004A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-02-16

原文格式PDF
申请/专利权人 R&D电路股份有限公司;
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申请/专利号CN201680031122.4
发明设计人 T·P·沃里克;J·V·拉塞尔;D·图尔普西玛;
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申请日2016-02-26
分类号G01R31/28(20060101);
代理机构44240 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙);
代理人金辉
地址美国新泽西州
入库时间 2023-06-19 04:35:52

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-06-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20160226

实质审查的生效
2018-02-16

公开

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