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一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法

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本发明提供一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法，在单色仪的输出口用离轴光学系统将单色光汇聚到真空控温系统中，在真空控温系统内由标准探测器接收。探测器的输出信号经过放大后送入数据采集系统，控制器控制单色仪输出波长的改变。测量时先将标准探测器置真空控温系统中进行校准，然后通过精密位移旋转台，移去标准探测器，并将被测探测器旋转到相同的位置上，等真空系统到设定状态后，再将变温箱设置在不同的温度下，等温度稳定后，进行不同温度下的非制冷光电探测器相对光谱响应测量。采用上述方案，既避免当单色光照射到被测红外探测器上，当周围温度升高或降低时非制冷光电探测器表面会结霜和产生水汽的干扰。

著录项

公开/公告号CN107884077A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-04-06

原文格式PDF
申请/专利权人中国电子科技集团公司第四十一研究所;
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申请/专利号CN201711101511.2
发明设计人刘红元;应承平;王恒飞;王洪超;李国超;吴斌;史学舜;杨延召;
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申请日2017-11-10
分类号
代理机构北京天奇智新知识产权代理有限公司;
代理人陈永宁
地址 266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号
入库时间 2023-06-19 04:56:43

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-15

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J5/52 申请公布日:20180406 申请日:20171110

发明专利申请公布后的驳回
2018-05-01

实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/52 申请日:20171110

实质审查的生效
2018-04-06

公开

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