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基于微动频散曲线和H/V曲线的地下不良地质体无损探测方法及应用

摘要

本发明为一种基于微动频散曲线和H/V曲线的地下不良地质体无损探测方法及应用。探测方法,它包括步骤1:采集多个测点的地表微震动信号;步骤2:分别计算微动台阵中的Rayleigh面波相速度频散曲线、台阵中检波器各测点的H/V曲线及台阵几何平均H/V曲线;步骤3:将各曲线形成等值线图;步骤4:根据等值线图中的异常特征推断解释异常地质体。本方法用于在城市工程建设中浅地表100m深度范围内纵向横向不均匀地质体的探测。本发明提高地铁盾构施工不良地质体探测中揭露孤石、岩溶概率,合理对盾构掘进施工安全性划分区域。具有现场采集方便,探测精度高,分辨能力强,同时缩短勘察工期、减少工程费用、降低勘探风险等优点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-04

    著录事项变更 IPC(主分类):G01V1/28 变更前: 变更后: 申请日:20171229

    著录事项变更

  • 2018-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V1/28 申请日:20171229

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    公开

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