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一种基于图谱分析的脑皮层厚度估计方法

摘要

磁共振成像(MRI)的脑皮层厚度估计是研究大脑神经退行性疾病的一项重要技术。本发明提出一种基于图谱分析的脑皮层厚度估计方法,可以有效地捕捉脑皮层的几何形态变化。首先,该方法通过构建四面体网格模型来逼近MRI中的脑皮层形态并反映其内在的几何特性;其次,该方法利用四面体网格中几何约束关系构建Laplace‑Beltramin算子来计算脑皮层内部温度场的分布;最后,通过图谱分析的机理构建由Laplace‑Beltramin算子的特征值和特征向量所表征的热量转移概率表征体系,并追踪最大热量传播概率确定脑皮层温度场内梯度场线的方向与长度,最终获得脑皮层的厚度信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108346150A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 鲁东大学;

    申请/专利号CN201810180863.X

  • 发明设计人 王刚;苏庆堂;张小峰;

    申请日2018-03-06

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 264025 山东省烟台市芝罘区红旗中路186号

  • 入库时间 2023-06-19 06:30:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20180306

    实质审查的生效

  • 2018-07-31

    公开

    公开

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