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用于离散量信号处理芯片的自检方法

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本发明涉及芯片可靠性设计中的方法。针对芯片设计中因引脚有限、小型化要求等限制，内部很多关键电路难以测试和检测，当多路离散量信号处理时电路复杂，出现故障时难以快速有效定位问题，提出了一种自定义的高可靠性自测试电路，达到上电自测试的目的。一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式。本发明提出的自检电路减少外围电路的硬件开销，并且不会对芯片内部电路产生误操作和干扰。

著录项

公开/公告号CN108615543A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-10-02

原文格式PDF
申请/专利权人中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所;
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申请/专利号CN201611140778.8
发明设计人刘敏侠;田泽;邵刚;王晋;郭蒙;龙强;
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申请日2016-12-12
分类号
代理机构中国航空专利中心;
代理人杜永保
地址 710000 陕西省西安市锦业二路15号
入库时间 2023-06-19 06:40:10

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-10-30

实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/12 申请日:20161212

实质审查的生效
2018-10-02

公开

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