首页> 中国专利> 测定甘氨酸原料药中α晶型含量的粉末X射线衍射法

测定甘氨酸原料药中α晶型含量的粉末X射线衍射法

摘要

本发明公开了一种测定甘氨酸原料药中α晶型含量的粉末X射线衍射法,该法选择峰2θ=19.1°作为α晶型的定量检测峰,选择峰2θ=25.4°作为γ晶型的定量检测峰,选用两者峰强度比值为定量参数,建立标准曲线,测定α晶型的含量。结果表明,该法用于测定甘氨酸原料药中α晶型的含量,准确可靠,快速简便,可用于甘氨酸原料药中α晶型的定量分析,以更好了解市场上甘氨酸的晶型种类,为控制甘氨酸的质量提供保障。同时,发明人还利用差示扫描量热法、热重分析法、红外光谱法、拉曼光谱法、近红外光谱法对甘氨酸α晶型与γ晶型进行多晶型研究,为甘氨酸的质量标准提高提供有力依据。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/20 申请日:20180522

    实质审查的生效

  • 2018-12-07

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号