首页> 中国专利> 基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法

基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法

页面导航

摘要

本发明公开了一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法，属于核材料辐照损伤模拟技术领域，该方法结合缺陷能量学性质和多尺度模拟，通过考察晶界结构和能量与缺陷浓度关系，可给出辐照缺陷诱导的晶界结构变化过程。同现有的模拟方法相比，本方法考虑了缺陷的占据与演化过程，更具有物理意义。

1. 基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法 [P] . 中国专利： CN108959709A . 2018-12-07
2. 用电子结构参数表征钢铁材料晶界性质和断裂特征的方法 [P] . 中国专利： CN1603819A . 2005-04-06
3. SOLID SOLUTION CONCENTRATION ADJUSTMENT METHOD FOR CRYSTAL GRAIN BOUNDARY AND PERIPHERY OF CRYSTAL GRAIN BOUNDARY OF HETEROGENEOUS ADDITIVE ELEMENT, AND METHOD OF MANUFACTURING NUCLEAR FUEL SINTERED BODY HAVING LARGE CRYSTAL GRAIN USING THE SAME [P] . 日本专利： JP2012088317A . 2012-05-10

机译：晶界和异质添加元素的晶界边界的固溶浓度调整方法，以及使用相同晶种制造大晶粒的核燃料烧结体的方法
4. EVALUATION METHOD OF DEFECT IN WAFER USING REACTIVE ION ETCHING AND WAFER STRUCTURE FOR THE SAME [P] . 韩国专利： KR100912342B1 . 2009-08-14

机译：基于反应离子刻蚀和晶圆结构的晶圆缺陷评估方法
5. Intergranular degradation assessment via random grain boundary network analysis [P] . 美国专利： US2002002865A1 . 2002-01-10

机译：基于随机晶界网络分析的晶间降解评估