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一种三基准体系下两宽度要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法

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本发明提出一种三基准体系下两宽度要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法，包括：S1，对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS；S2，根据所述D_DFS构件建立设计坐标系，根据所述M_DFS构件建立测量坐标系；S3，根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系；以定义转移公差和被测要素检验公差带；S4，采用变长曲柄平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系，根据平行四边形机构和摆杆机构的结构参数和性能参数，计算所述被测要素检验公差带。本发明所述方法可用于计算应用公差相关要求的两个基准要素为宽度要素时的任意基准方位布局下的转移公差，具有较好的普遍性。

著录项

公开/公告号CN109101677A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-12-28

原文格式PDF
申请/专利权人杭州电子科技大学;
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申请/专利号CN201810649184.2
发明设计人吴玉光;王伟;
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申请日2018-06-22
分类号
代理机构杭州千克知识产权代理有限公司;
代理人周希良
地址 310018 浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道2号大街1158号
入库时间 2023-06-19 07:55:44

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-01-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20180622

实质审查的生效
2018-12-28

公开

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