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一种基于双核t分布随机近邻嵌入的过程监测可视化方法

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本发明公开一种基于双核t分布随机近邻嵌入的过程监测可视化方法。包括离线建模和在线监测两个步骤。离线建模利用标准t‑SNE方法对历史正常数据降维；计算输入核矩阵到特征核矩阵的映射参数矩阵；利用PCA将特征核矩阵降至两维，然后计算平方马氏距离作为统计量并求控制限。在线监测计算采集到的数据与建模数据之间的核函数；将得到的核向量与映射参数矩阵相乘获得映射后的特征核向量；利用PCA对映射后的特征核向量降维，得到用于可视化的二维特征；绘制特征的散点图并观察是否在椭圆控制限范围内。相比于现有技术，本发明保留标准t‑SNE方法数据降维优势的同时，将其应用于工业过程故障监测可视化，降低了工业过程监测的误报和漏报率。

著录项

公开/公告号CN111796576A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-20

原文格式PDF
申请/专利权人北京工业大学;
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申请/专利号CN202010550245.7
发明设计人张海利;王普;高学金;高慧慧;
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申请日2020-06-16
分类号G05B23/02(20060101);
代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;
代理人张慧
地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号
入库时间 2023-06-19 08:00:20

法律信息

法律状态公告日

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法律状态
2023-03-31

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发明专利权授予

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