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基于瓶颈残差GAN的介观荧光分子层析成像方法及系统

摘要

本公开公开了基于瓶颈残差GAN的介观荧光分子层析成像方法及系统,包括:将获取的待成像的生物样片表面荧光光强数据,输入到预先训练好的瓶颈残差GAN中;瓶颈残差GAN先对输入数据依次进行降噪、稀疏和映射处理;然后,对映射处理后的数据进行重建,得到反映荧光蛋白探针浓度及分布的数据;基于反映荧光蛋白探针浓度及分布的数据,得到介观荧光分子层析成像结果。

著录项

  • 公开/公告号CN111751343A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东工商学院;

    申请/专利号CN202010640874.9

  • 申请日2020-07-06

  • 分类号G01N21/64(20060101);G06T3/40(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构37221 济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄海丽

  • 地址 264026 山东省烟台市莱山区滨海中路191号

  • 入库时间 2023-06-19 08:30:12

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