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产品表面缺陷分割方法、缺陷分割模型学习方法及装置

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摘要

本申请公开了一种基于孪生对比学习的产品表面缺陷分割方法，该方法对参考图和缺陷图的编码特征做显式排序学习，以自动聚焦缺陷部位，同时对参考图和缺陷图的解码特征做隐式的对比学习，以精细预测缺陷掩码。在应用阶段，获取产品的参考图及待测图；基于参考图及待测图，使用孪生编码网络获取参考图及其待测图的编码特征图；基于参考图及待测图的编码特征图，应用孪生解码网络获取参考图及待测图的解码特征图；对参考图和待测图的解码特征图进行特征融合，生成对比特征图；基于对比特征图，使用卷积获取待测图的分割掩码。本申请还提供了缺陷分割模型学习方法及装置，实现对产品表面缺陷在像素层级上的掩码预测，很大程度上满足高阶的应用需求。

著录项

  • 公开/公告号CN111754513A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 腾讯科技(深圳)有限公司;

    申请/专利号CN202010789117.8

  • 发明设计人 高斌斌;

    申请日2020-08-07

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/12(20170101);G06T9/00(20060101);G06T3/40(20060101);

  • 代理机构44285 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李杭

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层

  • 入库时间 2023-06-19 08:31:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 专利申请号:2020107891178 申请日:20200807

    实质审查的生效

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