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一种用于确认量子比特量子态的阈值线的获取方法

摘要

本发明公开了一种用于确认量子比特量子态的阈值线的获取方法,涉及量子测控领域;将量子比特制备成第一量子态和第二量子态并分别对其进行重复测量获取多个量子比特读取信号在正交平面坐标系上的坐标点数据,分别记为第一集合和第二集合,对第一集合与第二集合的坐标点分别进行高斯拟合,获得第一集合和第二集合分别对应的高斯拟合图形的第一统计中心坐标点和第二统计中心坐标点,分别对应的第一标准差和第二标准差;分别确定第一集合中的第一概率密度分布函数和第二集合的第二概率密度分布函数;确定保真度函数,确定保真度函数取最值时对应的阈值线为最佳阈值线;依照本发明方法建立的阈值线,能够为未知量子态的判定提供更为准确的参考。

著录项

  • 公开/公告号CN111860550A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201910333092.8

  • 发明设计人 孔伟成;

    申请日2019-04-24

  • 分类号G06K9/62(20060101);G06T7/10(20170101);G06T7/136(20170101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 230008 安徽省合肥市高新区创业产业园二期E2栋6层

  • 入库时间 2023-06-19 08:42:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-28

    授权

    发明专利权授予

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