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一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法

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本发明提供一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，解决现有图像处理方法无法解决由光照不均匀、对比度低、损伤点粘连、像素偏移对损伤点识别准确性影响的问题。该方法包括步骤：1)将损伤前、损伤后图像转换为损伤前、损伤后灰度图像；2)对损伤前、损伤后灰度图像均采用两种局部二值化算法处理并融合，得到二值化后的损伤前融合图像和损伤后融合图像；3)根据相位相关计算出的像素偏移量对损伤前融合图像进行仿射变换，再背景差分运算得到仅存在损伤点的二值化图像；4)对仅存在损伤点的二值化图像进行闭运算再迭代腐蚀，得到核信息；5)生成分水岭分割的种子区域；6)使用分水岭分割算法对损伤后图像进行分割，获取损伤点信息。

著录项

公开/公告号CN112017157A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-01

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所;
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申请/专利号CN202010704910.3
发明设计人李刚;王伟;弋东驰;魏际同;
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申请日2020-07-21
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/11(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/155(20170101);G06T5/50(20060101);
代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人董娜
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
入库时间 2023-06-19 09:04:30

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法律状态
2023-04-11

授权

发明专利权授予

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