• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 芯片实验室分析设备和用于芯片实验室分析设备的壳体

芯片实验室分析设备和用于芯片实验室分析设备的壳体

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献

摘要

本发明涉及一种用于芯片实验室分析设备（100）的壳体（110）。壳体（110）具有试剂盒开口（111），用于将具有待分析的材料的试剂盒引入芯片实验室分析设备（100）中。壳体（110）还具有后侧（114），其具有连接开口，以便将用于能量供应的电缆连接至芯片实验室分析设备（100）。壳体（110）还具有立面侧（116），其具有用于维护芯片实验室分析设备（100）的维护接口。立面侧（116）成形用于在芯片实验室分析设备（100）运行时作用为芯片实验室分析设备（100）的立面。后侧（114）成形用于在从连接开口移除的电缆中并且在维护芯片实验室分析设备（100）时作用为芯片实验室分析设备（100）的另一立面。

著录项

  • 公开/公告号CN112041078A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗伯特·博世有限公司;

    申请/专利号CN201980026836.X

  • 发明设计人 K·塞德尔;

    申请日2019-04-18

  • 分类号B01L9/00(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘安东;司昆明

  • 地址 德国斯图加特

  • 入库时间 2023-06-19 09:06:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号