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多核密码芯片、多核密码芯片的测试方法和测试装置

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本申请提供了一种多核密码芯片、多核密码芯片的测试方法和测试装置，该多核密码芯片包括：多个密码核，用于进行数据运算，各密码核相互独立运行；第一存储器，用于存储各密码核的测试结果；多核控制模块，与第一存储器和各密码核通信连接，用于根据测试结果控制各密码核的开关。该多核密码芯片中，由于各密码核相互独立运行，多核控制模块根据测试结果将异常的密码核关闭后，其他密码核正常工作，并不影响多核密码芯片的正常运行，相比于现有技术一个密码核的测试结果为异常即确定芯片异常，大大提高了多核密码芯片的测试良率，进而解决了现有技术中多核密码芯片的测试良率低的问题。

著录项

公开/公告号CN112131067A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-25

原文格式PDF
申请/专利权人九州华兴集成电路设计(北京)有限公司;
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申请/专利号CN202011342074.5
发明设计人邓先坤;
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申请日2020-11-26
分类号G06F11/22(20060101);
代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;
代理人霍文娟
地址 100080 北京市海淀区科学院南路2号C座16层S1601-S1605
入库时间 2023-06-19 09:19:57

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