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一种提高对树干生长过程分析精度的方法、设备、计算机可读存储介质

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本发明公开了一种提高对树干生长过程分析精度的方法，根据测量需求，测量不同方向的树干生长过程。先把目标树木的树干截成若干段，分析并记录每个树干段的两个横截面的每个年轮对应的直径及横截面所在高度。根据测量需求，按指定方向的平面或曲面，沿树干中央，采用可精准控制走向和速度的且低损耗的切割工具，准确纵剖每个树干段，准确测量并获得树干段上每个年轮的实际生长高度和其在树干段横截面高度位置的直径，画出通过树干中央的准确的树干生长纵剖面图，按既定公式，准确计算树干直径、树高、材积、形数的平均生长率和连年生长率等一系列参数。该方法避免了传统方法的估计和推算误差，提高了对树干生长过程的分析精度。

著录项

公开/公告号CN112539725A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-23

原文格式PDF
申请/专利权人华东师范大学;
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申请/专利号CN202011424639.4
发明设计人李德志;李经纶;秦艾丽;
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申请日2020-12-09
分类号G01B21/02(20060101);G01B21/10(20060101);
代理机构31319 上海德禾翰通律师事务所;
代理人夏思秋
地址 200241 上海市闵行区东川路500号
入库时间 2023-06-19 10:22:47

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2023-03-10

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B21/02 专利申请号:2020114246394 申请公布日:20210323

发明专利申请公布后的视为撤回

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