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面向5G大规模阵列天线测试的OTA测试系统及方法

摘要

本发明提供一种面向5G大规模阵列天线测试的OTA测试系统及方法,包括:近场采样探头每到达一个空间采样点位返回到位确认信号至多任务控制装置;多任务控制装置实时响应该信号,将存储的测试任务信息依次发送至阵面控制装置;阵面控制装置依次生成相应待测波束;待测大规模阵列天线设备和近场采样探头发射或接收测试信号;待测大规模阵列天线设备将射频测试信号转换为IQ测试信号,并生成IQ参考信号,发送至测试计算机;测试计算机基于所述IQ参考数字信号对所述IQ测试数字信号进行归一化处理,通过近远场变换确定待测大规模阵列天线设备的OTA性能指标。该方案单次扫描能够完成待测设备多个频点下多个波束状态的OTA性能测试。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04B17/29 专利申请号:2020115494936 申请公布日:20210326

    发明专利申请公布后的驳回

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