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一种半导体激光器的空间模式检测系统及检测方法

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本申请涉及半导体激光器技术领域，具体提供一种基于高分辨率双通光栅光谱仪的空间模式检测系统以及检测方法，所述空间模式检测系统包括准直单元、扩束单元、光束筛选单元、聚焦单元、衍射单元、转动单元、第一反射镜、场镜以及接收屏；通过采用高精度双通道光栅光谱仪结构，将半导体激光器的模式在空间上分离出来，投射到接收屏上，进一步通过CCD可直观地观察出模式分布；本申请提供的检测系统以及检测方法能够有效地检测半导体激光器的空间模式数量，有助于了解半导体激光器的模式特性、改进优化半导体激光器的设计。

著录项

公开/公告号CN112729780A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-30

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
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申请/专利号CN202011603029.0
发明设计人林星辰;赵宇;聂真威;韩冰;陈媛;王俊杰;
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申请日2020-12-29
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构22218 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人高一明;郭婷
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2023-06-19 10:48:02

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法律状态公告日

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法律状态
2022-06-21

授权

发明专利权授予

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