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一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置及边耦合腔测量方法

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本发明公开了一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置，包括：网络分析仪、测量部和电缆。其中，所述测量部包括主体和同轴线；所述主体为形成有凹槽的铜管；所述同轴线的一端设有磁耦合环；所述同轴线位于所述主体中，且所述磁耦合环位于所述凹槽中；所述同轴线的另一端设有同轴射频接头；所述同轴射频接头通过所述电缆与所述网络分析仪连接。本发明的技术方案通过主体上的凹槽以及位于凹槽中的磁耦合环，既可以实现将待测边耦合腔两侧的加速腔完全短路，又可以为微波信号的激励和接收装置留出了空间，从而可以准确地获取边耦合腔的测试结果。

著录项

公开/公告号CN112763795A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07

原文格式PDF
申请/专利权人中国原子能科学研究院;
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申请/专利号CN202011618129.0
发明设计人杨誉;杨京鹤;
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申请日2020-12-30
分类号G01R23/02(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人张成新
地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号院
入库时间 2023-06-19 10:54:12

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法律状态
2022-11-29

授权

发明专利权授予

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