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可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法

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摘要

本发明涉及一种激光测量用单光路光学系统，具体涉及一种可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法。本发明的目的是解决现有激光远近场测量中存在需要分光元件、两套成像镜头以及两台相机，成本昂贵，经济性差的技术问题，提供一种可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法。本发明将透射过近场成像镜头中最靠近CCD探测器的透镜的激光采集作为近场，将经该透镜二次反射再到CCD探测器探测面的光束采集作为远场，实现了利用单一光路和单CCD探测器同时测量激光远近场参数的目的。不再需要分光元件，只利用单一光路、单一镜头和单探测器实现了以往需要双光路、双镜头和双探测器才能实现的远近场参数测量，节省了一半的成本，经济性良好。

著录项

  • 公开/公告号CN112903248A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院西安光学精密机械研究所;

    申请/专利号CN202110096680.1

  • 发明设计人 袁索超;董晓娜;达争尚;

    申请日2021-01-25

  • 分类号G01M11/00(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人王杨洋

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

  • 入库时间 2023-06-19 11:16:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-30

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M11/00 专利申请号:2021100966801 申请公布日:20210604

    发明专利申请公布后的视为撤回

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