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用于在恶劣环境中测量物理参数的光学传感器及其制造和使用方法

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摘要

一种用于测量物理参数的光电子系统，包括：利用耦合器被一并耦合为组合光的具有不同峰值频率的两个窄带光源。所述组合光被分成第一法布里‑珀罗干涉仪和第二法布里‑珀罗干涉仪，所述第一法布里‑珀罗干涉仪被设置为暴露于温度和另一个物理参数，所述第二法布里‑珀罗干涉仪被设置为仅暴露于温度。所述系统还包括：第一光学检测器和第二光学检测器，被设置为通过包括透镜和/或反射镜的组合的光路和菲索干涉仪分别接收从第一、第二法布里‑珀罗干涉仪的腔反射的光。处理器被设置为分析第一光学检测器和第二光学检测器接收的数据，并计算温度值和物理参数。

著录项

公开/公告号CN112985477A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-18

原文格式PDF
申请/专利权人梅吉特股份有限公司;
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申请/专利号CN202011379479.6
发明设计人多米尼克·韦兹;布莱兹·伊夫·盖拉;詹卢卡·尼基奥蒂;弗雷德里科·迪亚斯;樊尚·帕拉;
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申请日2020-11-30
分类号G01D5/353(20060101);G01L11/02(20060101);G01K11/32(20210101);G01K11/3206(20210101);
代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;
代理人龚伟;李鹤松
地址瑞士菲布尔格
入库时间 2023-06-19 11:29:13

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-12-16

实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 5/353 专利申请号:2020113794796 申请日:20201130

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