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基于正弦条纹和多灰度级条纹投影的快速三维测量方法

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本发明涉及一种基于正弦和多灰度级条纹投影的快速三维测量方法，包括如下步骤：步骤一、利用计算机生成多种条纹图，具体包括三幅正弦相移条纹图，以及一到多幅多灰度级条纹图；步骤二、用投影仪将多幅条纹图依次投影到被测物体表面，对每幅投影图像用相机进行采集；步骤三、利用三幅正弦相移条纹图求解出包裹相位；步骤四、对多灰度级图像进行阈值分割计算相对条纹级次，可以利用直接照明分量和间接照明分量等算法计算合适阈值；步骤五、利用多灰度级图像对相对条纹级次计算得到绝对条纹级次。然后进行相位解包裹获得用于三维重建的绝对相位；步骤六、三维重建，进行相位‑高度转换，得到被测物体的三维高度数据。

著录项

公开/公告号CN113155056A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-23

原文格式PDF
申请/专利权人北京朗视仪器股份有限公司;
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申请/专利号CN202110179797.6
发明设计人刘哲;王伟;左飞飞;李晓芸;王亚杰;吴宏新;张文宇;
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申请日2021-02-08
分类号G01B11/25(20060101);
代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人张乾桢
地址 100084 北京市海淀区清华园清华同方大厦8层A8008B
入库时间 2023-06-19 11:59:12

法律信息

法律状态公告日

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法律状态
2023-02-07

授权

发明专利权授予

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