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光学测距装置及检测光学测距装置中的异常的产生的方法

摘要

光学测距装置10具备:光源部20,射出对测定区域MR进行照射的照射光IL;受光部30,具有排列有多个SPAD31的受光面32,由上述SPAD31检测上述照射光IL被反射后的反射光RL的光子;壳体60,收纳上述光源部20和上述受光部30;以及判定部51,使用上述SPAD31根据上述照射光IL在上述壳体60内被反射后的杂波反射光RLc而输出的信号,判定上述受光部30中的异常的产生的有无。

著录项

  • 公开/公告号CN113302516A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社电装;

    申请/专利号CN201980089019.9

  • 发明设计人 立野善英;

    申请日2019-12-18

  • 分类号G01S7/497(20060101);G01S7/4863(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人舒艳君;王海奇

  • 地址 日本爱知县

  • 入库时间 2023-06-19 12:19:35

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