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单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元

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提供即使没有专业知识也能够迅速、可靠且容易地进行包括吸藏在晶体海绵的试样的搭载作业在内的基于晶体海绵的构造解析的单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元。试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部、保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于基台部、导入用于吸藏于细孔性络合物晶体的试样，涂敷器具备：收纳空间以及开口部(302)，收纳试样保持架；以及防脱部，选择性地阻止以及解除收纳于收纳空间的试样保持架从开口部(302)脱出，防脱部具有在向测角仪安装了收纳于涂敷器的试样保持架的状态下解除防脱的操作部。

著录项

公开/公告号CN113302484A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-24

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社理学;
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申请/专利号CN201980089457.5
发明设计人佐藤孝;
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申请日2019-11-21
分类号G01N23/20025(20060101);G01N23/205(20060101);G01N23/207(20060101);G01N1/28(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人张远
地址日本国东京都
入库时间 2023-06-19 12:19:35

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