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鉴定结构的方法

摘要

描述了一种样品分析方法。该方法包括提供具有上表面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列。样品被施加到样品支架并被照射。在基于接收到的光的颜色形成的图像中,样品的至少一个局部结构性质是可见的。该方法包括使用该形成的图像来控制后续分析过程。该后续分析过程可以是另一种显微术过程,比如TEM、SEM等。

著录项

  • 公开/公告号CN113544492A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 乐卓博大学;

    申请/专利号CN201980090290.4

  • 发明设计人 B·艾比;E·巴拉乌尔;

    申请日2019-11-29

  • 分类号G01N21/552(20060101);G02B5/00(20060101);G02B21/34(20060101);B82Y15/00(20060101);

  • 代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人石海霞;金鹏

  • 地址 澳大利亚维多利亚州

  • 入库时间 2023-06-19 12:56:12

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