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可测量物质在超高压条件下的二次谐波的装置及其应用

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本发明公开了一种可测量物质在超高压条件下的二次谐波的装置，包括激光激发部，提供入射激光，并将入射激光转换为偏振光；显微光路部，改变所述偏振光的光路，至该偏振光聚焦到待测样品上，激发二次谐波并使该二次谐波沿入射激光原光路返回；载物部，包含金刚石对顶砧压机，以放置并固定待测样品；以及信号接收部，接收显微光路部中返回的二次谐波的激光信号并将该激光信号转换成电信号。通过该装置，在改变环境压力的情况下，排除外界干扰从而准确无误的采集粉末样品的二次谐波强度随压力的变化以及变压下单晶样品的二次谐波强度随入射激光极化角度的变化，最终实现在DAC内原位高压二次谐波测量。本发明还公开了测量物质在超高压条件下的二次谐波的方法。

著录项

公开/公告号CN113567400A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-29

原文格式PDF
申请/专利权人北京高压科学研究中心;
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申请/专利号CN202110805475.8
发明设计人王永刚;姜德泉;李娜娜;
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申请日2021-07-16
分类号G01N21/63(20060101);
代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;
代理人邹欢
地址 100094 北京市海淀区西北旺东路10号中关村软件园二期东8号楼
入库时间 2023-06-19 13:02:24

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