首页> 中国专利> 使用线性反函数的飞行时间测量

使用线性反函数的飞行时间测量

摘要

一个示例提供了一种飞行时间深度成像系统,该系统被配置为调制从光源发射的光以利用经调制的光照射环境,以及针对一个或多个调制频率中的每个调制频率,在多个相位步长中的每个相位步长处对图像进行积分,并且经由一个或多个温度传感器感测光源和/或图像传感器的温度以获取测量到的温度。指令还可执行以,并且针对图像传感器的一个或多个像素中的每个像素:使用针对每个调制频率的线性反函数基于测量到的温度来确定复相量,基于复相量来确定从光源发射的光与来自光源的、被环境反射回来的光之间的相位偏移,以及基于相位偏移来输出针对像素的深度值。

著录项

  • 公开/公告号CN113678024A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 微软技术许可有限责任公司;

    申请/专利号CN202080028952.8

  • 发明设计人 J·P·高德巴兹;

    申请日2020-03-26

  • 分类号G01S17/89(20200101);G01S7/497(20060101);G01S17/894(20200101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人马明月

  • 地址 美国华盛顿州

  • 入库时间 2023-06-19 13:18:31

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号