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一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法

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本发明公开了一种FPGA芯片测试平台，包括：激励产生发送的代理模块，配置用于产生随机激励序列；参考模型，配置用于接收激励产生发送的代理模块产生的随机激励序列，并基于随机激励序列生成目标数据；以及计分板，配置用于将参考模型生成的目标数据和FPGA芯片的输出数据进行对比，以得到测试结果；其中，激励产生发送的代理模块与FPGA芯片通过串行协议接口相连，激励产生发送的代理模块向FPGA芯片发送随机激励序列，并接收FPGA芯片的输出数据。本发明还公开了一种FPGA芯片测试方法。本发明可以降低测试工作量，提高测试效率，并且其复用的特点适应不同测试模块的激励产生，大大减少了重复性劳动。

著录项

  • 公开/公告号CN113671349A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司;

    申请/专利号CN202110964376.4

  • 发明设计人 杨萌;

    申请日2021-08-22

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构11278 北京连和连知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘小峰;杨帆

  • 地址 250000 山东省济南市中国(山东)自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层

  • 入库时间 2023-06-19 13:20:03

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