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对分段γ扫描测量系统的透射源属性特征的表征方法

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本发明涉及一种对分段γ扫描测量系统的透射源属性特征的表征方法，包括以下步骤：制作对γ射线等效水密度已知的标准透射对象；利用模拟计算方法模拟透射测量过程，建立关于标准透射对象的透射厚度、等效水密度、原始重建密度、透射源空间夹角余弦以及γ射线能量的数据库，基于数据库拟合透射源空间夹角余弦关于标准透射对象的参数和γ射线能量的对应关系；对待表征的透射源，选择对应的标准透射对象进行透射测量，获取标准透射对象的原始重建密度；根据标准透射对象的已知参数和γ射线能量通过拟合的对应关系，从数据库读取待表征透射源的透射源空间夹角余弦。

著录项

公开/公告号CN113853536A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-12-28

原文格式PDF
申请/专利权人中国原子能科学研究院;
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申请/专利号CN202080024726.2
发明设计人王仲奇;柏磊;邵婕文;苗强;
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申请日2020-04-21
分类号G01T1/167(20060101);
代理机构11493 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司;
代理人王鹏鑫
地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号院
入库时间 2023-06-19 13:26:15

法律信息

法律状态公告日

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法律状态
2023-05-23

授权

发明专利权授予

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