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一种用于辐照后光电成像器件暗电流激活能测试方法

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本发明提供了一种用于辐照后光电成像器件暗电流激活能测试方法。该方法涉及装置是由高低温箱和样品测试板两部分组成。将置于高低温箱中的样品测试板接通电源，然后调节高低温箱内的温度调节模块，达到目标温度后，保证测试样品与高低温箱环境温度一致，通过计算机中的采图软件，找出热像素灰度值达到饱和时对应的积分时间，确定为最大积分时间，等间隔选择10个小于最大值的积分时间，每个积分时间下采集10帧图像，完成不同温度下暗场测试；暗电流与工作温度之间的关系可以用阿伦纽斯公式描述，提取曲线的斜率，计算每个像素的暗电流激活能。本发明可以在实验室条件下完成辐照后暗电流激活能的测试，适用范围广，方法简单有效，计算结果准确。

著录项

公开/公告号CN113917217A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-11

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院新疆理化技术研究所;
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申请/专利号CN202111187762.3
发明设计人文林;刘炳凯;李豫东;周东;冯婕;郭旗;
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申请日2021-10-12
分类号G01R19/00(20060101);G01J1/42(20060101);
代理机构65106 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙);
代理人张莉
地址 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号
入库时间 2023-06-19 13:52:41

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