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一种基于低能X射线电离的真空电气设备真空度检测方法

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本发明公开了一种基于低能X射线的真空电气设备真空度检测方法，包括X射线机，屏蔽箱，不同真空度的真空腔（真空度分别为：0.001Pa、0.01Pa、0.1Pa、1Pa），50Ω同轴电缆，变压器，整流二极管，保护电阻，滤波电容，采集电阻和采集装置，铅屏风。该方法具体为：X射线机发射X射线照射至真空电气设备的真空腔，对真空电气设备施加直流电压，采用脉冲电流法观察电离电流；通过施加电压，并施加X射线，观察电离电流强度的变化，从而达到对真空电气设备的真空度判断。照射装置带有10mm铅当量的铅屏蔽箱，防止X射线泄露危害使用者。由于X射线具有很强的物体穿透能力，从而使真空电气设备在不拆卸情况下检测真空度。从而为真空电气设备的真空度检测提供一种新方法。

著录项

公开/公告号CN113959632A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-21

原文格式PDF
申请/专利权人华北电力大学;
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申请/专利号CN202111429494.1
发明设计人郑书生;张宗衡;吴诗优;
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申请日2021-11-29
分类号G01L21/36(20060101);
代理机构
代理人
地址 102206 北京市昌平区北农路2号
入库时间 2023-06-19 13:58:51

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