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一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备及方法

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摘要

本发明涉及一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备，包括：分束镜布置在激光器的出射端，且其具有两个出射端；振镜布置在分束镜的其中一个出射端；1/2波片布置在分束镜的另一个出射端；偏振分光镜布置在1/2波片的出射端；第一1/4波片布置在偏振分光镜的出射端；第一场镜布置在第一1/4波片的出射端；光折变晶体布置在偏振分光镜的出射端；反光器件布置在偏振分光镜的出射端；第二1/4波片布置在反光器件的出射端与光折变晶体的入射端之间；光电探测器布置在光折变晶体的出射端；信号处理器分别与激光器、振镜和光电探测器电连接。有益效果是：激光激励和激光干涉仪用同一个光源；设备灵敏度高；能测量粗糙平面的振动信号。

著录项

  • 公开/公告号CN114018825A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宝宇(武汉)激光技术有限公司;

    申请/专利号CN202111131182.2

  • 发明设计人 李震;刘鉴霆;周永祥;王亦军;

    申请日2021-09-26

  • 分类号G01N21/17(20060101);G01N21/01(20060101);G01H9/00(20060101);

  • 代理机构42257 武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐杨松;高源

  • 地址 430000 湖北省武汉市江夏区东湖新技术开发区茅店山中路5号武钢高新产业园2号楼1层1-102

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    公开

    发明专利申请公布

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