公开/公告号CN114038970A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-11
原文格式PDF
申请/专利权人 重庆康佳光电技术研究院有限公司;
申请/专利号CN202110298176.X
申请日2021-03-19
分类号H01L33/32(20100101);H01L33/38(20100101);H01L33/04(20100101);H01L33/00(20100101);H01L25/16(20060101);
代理机构44281 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司;
代理人李发兵
地址 402760 重庆市璧山区璧泉街道钨山路69号(1号厂房)
入库时间 2023-06-19 14:09:38
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-01
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/32 专利申请号:202110298176X 申请日:20210319
实质审查的生效
机译: 制备p型电导率InxAlyGa1-x-yN的镁掺杂外延层的方法,其中0 x 0,2和0 y 0,3以及包含该外延层的多层半导体结构
机译: 一种利用外延层生长的硅单晶衬底的制造方法(制造用于外延层生长的单晶衬底的方法)
机译: 用于数字照相机的互补金属氧化物半导体图像传感器,采用选择性外延生长工艺,在P型衬底的N型杂质离子区域上具有硅外延层