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一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法

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摘要

本发明涉及一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法，所述光度计包括离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管，所述离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管依次排序设置；其中，所述离轴抛物面反射镜表面镀远紫外带通反射膜；所述透射式带通滤光片的基底材料为MgF2晶体或LiF2晶体，在MgF2或LiF2晶体片表面镀多层膜，其中，多层膜膜材料为Al和MgF2；所述长波通滤光片为BaF2晶体窗口。该光度计可对135.6nm气辉辐射实现全天时、高灵敏度探测，既保证仪器的高灵敏度，又保证高带外抑制比和窄带测量，保证高精度探测数据的获取。

著录项

  • 公开/公告号CN114076636A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院国家空间科学中心;

    申请/专利号CN202010835880.X

  • 发明设计人 付利平;贾楠;王天放;彭如意;肖思;付建国;白雪松;李睿智;

    申请日2020-08-19

  • 分类号G01J3/02(20060101);G01J3/28(20060101);G01N21/33(20060101);

  • 代理机构11472 北京方安思达知识产权代理有限公司;

  • 代理人武玥;张红生

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南二条1号

  • 入库时间 2023-06-19 14:15:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/02 专利申请号:202010835880X 申请日:20200819

    实质审查的生效

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