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原位监测化学化工反应双级联扣杂散光发射光谱测量装置

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摘要

本发明涉及一种原位监测化学化工反应双级联扣杂散光发射光谱测量装置和方法。其中，可调谐脉冲光源或连续光源发出的光依次通过第一级单色仪、第二级单色仪、原位反应池、第三级单色仪、第四级单色仪后被紫外可见探测器或近红外探测器接收；单波长脉冲光源发出的光依次通过原位反应池、第三级单色仪、第四级单色仪后被紫外可见探测器或近红外探测器接收；数据采集系统作为总控制分别与所有组件相连。本发明可与温度可调原位反应池联动使用，使用激光加热和液氮制冷，反应温度为‑196℃至1000℃，变温速率为800℃/秒，可原位探测反应体系在不同温度下和不同反应时间的发射光谱变化以得到其反应动力学行为参数。

著录项

  • 公开/公告号CN114113003A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院大连化学物理研究所;

    申请/专利号CN202010883520.7

  • 发明设计人 韩克利;赵文远;杨阳;刘建勇;

    申请日2020-08-28

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01N21/03(20060101);

  • 代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人王倩

  • 地址 116023 辽宁省大连市沙河口区中山路457-41号

  • 入库时间 2023-06-19 14:20:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

    发明专利申请公布

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